X-ray mikroszkóp - a

mikroszkóp alatt. célja, hogy tanulmányozza a mikroszerkezetétől tárgyak röntgen. A felbontás határértéket R. m. A felbontás is meghaladhatja fénymikroszkópok 2-3 nagyságrenddel összhangban az arány a hullámhossz l Röntgen. és a látható sugárzás. Sajátosságai figyelembe Következmény-ray sugárzás CMV Röntgen kontraszt. Opt. Systems fény. Kis eltérés a törésmutató röntgensugárzás. sugarak egység (kisebb, mint 10-4) gyakorlatilag nem teszi lehetővé számukra, hogy összpontosítson lencsék és prizmák. Elektromos. és magnézium. lencsék erre a célra szintén nem kell alkalmazni, azaz a. a. röntgensugarakat. sugárzás inert elektromos. és magnézium. területeken. Ezért P. m. A hangsúly az X-sugarakat. Sugarak használt teljes külső jelenség. ívelt tükrös visszaverődés vagy reflexiós síkok krisztallográfiás. síkok (fényvisszaverő P. m.). Azt is meg lehet szerkeszteni P. m. Az elv az árnyék vetülete a tárgy egy széttartó sugárnyaláb egy pontban (vetület vagy árnyék P. m.). Fényvisszaverő P. m. Tartalmaz egy mikrofókuszos X-ray forrás. sugárzás, ívelt reflektorok, tükrök üvegből (kvarc az alkalmazott réteg arany rajta), vagy hajlított egykristályok és a kép detektorok (fényképészeti film, elektro-optikai átalakítók). Ábra. Az 1. ábra egy diagram, a sugár útját a P. m. A két tükör forgatjuk egymáshoz képest 90 ° -kal. Előállítása nagy felbontású egy P. m. Egy kis szögtartományban a teljes külső. reflexió (csúszási szög 1 m) és nagyon merev követelmények profil és a tükör felületek feldolgozás minősége (megengedhető érdessége = 1 nm).

Ábra. 1. ábra A hangsúly röntgen. sugarakat visszaverő R. m két keresztbe tükör :. OO'-Opt. tengelye a rendszer; A - az objektum, A „arculatát. A növekedés O'A „/ OA.

Teljes felbontású P. m. L, és függ a nyílásszöge nem haladja meg a csúszási szög. Pl. sugárzást L = 0,1 nm és a csúszási szög 25 „diffrakciós. megoldás nem haladja meg a 8,5 nm (nagyítás 105). Ha az élességet az X-sugarakat. sugárzás hajlítva egykristályok, amellett, hogy december aberrációk az optikai rendszerek, a kép minősége befolyásolja cristae hiányosságai. struktúra, valamint a végső érték Bragg-szög röntgendiffrakciós. Projection P. m. Tartalmazza a röntgensugarakat. sverhmikrofokusom forrás egy d átmérőjű = 0,1- 1 nm kamrával a vizsgált tárgy és a rögzítő eszköz. Nagyítás M vetítés. . R m aránya határozza meg a távolságot a sugárforrás a tárgy (ak), hogy az érzékelő és a (b): M = b / a (2. ábra). Lineáris felbontású vetítés. P. m. Reaches 0,1-0,5 nm. Geom. Felbontás határozza meg elmosódás (félárnyék) széle az objektum RG méretétől függően egy röntgen forrást. sugarak és növeli a M: Pg = Md. Diffrakciós. felbontás függ diffrakciós. Fresnel rojtok on ES GP = AL1 / 2-régió, és ahol - a távolság a forrástól a tárgyat. Mivel a nem lehet kevesebb, mint 1 nm felbontással l = 0,1 nm 10 nm (ha a méret a forrás biztosítja ugyanazt a Geom. Felbontás). A kép kontrasztja miatt előfordul, hogy a különbség a sugárzás elnyelése december szakaszok az objektumot. Ez a különbség határozza meg az érzékenység árnyék és P. m.

P. m. Felszerelhető december X-ray átalakítók. látható kép együtt a televíziós rendszerekben.

Az alacsony röntgen mikroszkóp hullámhosszú röntgensugarak. sugárzás R. m. elérheti diffrakciós. felbontása érdekében több. tízes nm és az elméleti. legnagyobb felbontású foglal el köztes helyzetben az optikai és elektronmikroszkóppal. Ő lehetővé teszi számunkra, hogy tanulni nem csak a megoszlása ​​a teljes sűrűségű anyag, hanem az elosztási sűrűségek Tsz. Chem. elemeinek jellegzetes. X-ray. kibocsátási (abszorpció). Ellentétben elektronmikroszkóp, P. m. Bpol lehetővé vizsgáló él. tárgyakat.

A képalkotó módszer megkülönböztetni vetítés, pin,

Lásd, amit a „röntgen mikroszkóppal” más szótárak:

X-ray mikroszkóp - egy eszközt a tanulmány a mikroszkopikus objektumok szerkezetét röntgen képernyő segítségével. A nyúlvány (árnyék) X-ray mikroszkóptárgylemezen (. Pl botanikai szakasz) közelében található egy pont X-ray forrás; ... Collegiate Dictionary

X-ray mikroszkóp - a készülék a tanulmány mikroszerkezetének különböző tárgyakat a röntgensugárzás, a felbontás határa nagyobb lehet, mint a felbontás fénymikroszkópra 2 3 nagyságrenddel. P. m. Felszerelhető a különböző X-ray átalakítók ... ... A legtöbb Polytechnique enciklopédia

X-ray mikroszkóp - X-ray mikroszkóp berendezés a tanulmány a nagyon kis tárgyak méretekkel összemérhető a hullámhossz a X-ray. Ez használatán alapuló elektromágneses sugárzást, amelynek hullámhossza 0,01 és 1 nanométer. X-ray ... ... Wikipedia

X-ray mikroszkóp - egy eszközt a tanulmány a mikroszkopikus objektumok szerkezetét röntgen képernyő segítségével. A nyúlvány (árnyék) X-ray mikroszkóp, egy tárgyat (például egy botanikai szakasz) közelében található egy pontszerű forrásból X-ray ... ... Collegiate Dictionary

X-ray mikroszkóp - rentgeno mikroskopas statusas T sritis fizika atitikmenys: angl. Röntgen mikroszkóp vok. Röntgenmikroskop, n rus. X-ray mikroszkóp, m pranc. mikroszkóp à rajonra X, m ... Fizikos termínu žodynas

X-ray mikroszkóp - egy eszközt a mikroszkópiai vizsgálat. objektumok szerkezetét röntgen képernyő segítségével. Action P. m. DOS. nagy átütő ereje és a hirtelen változás a felszívódását röntgensugarakat a változás. n. elemekkel. Tovább ... ... Nagy Encyclopedic szótár Polytechnic

X-ray mikroszkóp - egy eszközt a mikroszkópiai vizsgálat. objektumok szerkezetét röntgen képernyő segítségével. A vetítés. . (Árnyék) m R. oldalak (.. Bot pl vágás) közelében található egy pont X-ray forrás; divergens ragyog ... ... Természetes. kollégiumi szótár

Lézer ray mikroszkóp - (LR MSC) eszköz, vagy X-ray mikroszkóp c segítségével lézersugarak jellemezve felbontású nyújtó képalkotás a szubatomi, atomi szinten alapuló segítségével stimuláljuk a nyaláb, például ... ... Wikipedia

Mikroszkóp X-ray - X-ray mikroszkóp berendezés a tanulmány a nagyon kis tárgyak méretekkel összemérhető a hullámhossz a X-ray. Ez használatán alapuló elektromágneses sugárzást, amelynek hullámhossza 0,01 és 1 nanométer. X-ray ... ... Wikipedia

Mikroszkóp - Ebben a kifejezést, vannak más célra, lásd: Mikroszkóp (egyértelműsítő lap) .. Mikroszkóp, 1876 ... Wikipedia

• X-ray mikroszkóp. Dzhessi Rassel. Ez a könyv lesz összhangban a rendelését Technology Print-on-Demand technológiát. High Quality Content Wikipedia cikket! A röntgen mikroszkóppal n -? Device ... Tovább Vásárlás 998 rubelt